Ausschnitt eines Quarz-Dünnschliffs unter gekreuzten Polarisatoren (a) und Auswertung der Diffraktion aus der µRFA (b). Die µRFA zeigt im Quarz ein Siliziumsignal und je nach Orientierung der Quarzkörner eine Reihe an Diffraktionspeaks, die genutzt werden können, um einzelne Körner zu trennen. Das Diagramm c) zeigt dazu, dass die Korngrößenverteilung (in 2D) aus dem Dünnschliff mit der Korngrößenverteilung aus den µRFA-Daten korreliert.
Quelle: BGR